普賽斯(PRECISE) / PSS COC3T19201
COC全自動三溫測試機
本設備適用於 COC / COS 封裝形式 的 DFB、EML、SOA 晶片，在 低溫、常溫與高溫 條件下進行 LIV 綜合測試與光譜測試。
系統支援 μs 級直流 / 脈衝輸出與量測，採用 雙測試工位設計，並配置 機械手全自動上下料 機構。
具 高整合度、高測試效率、高穩定性，且 維護與操作簡便，特別適用於：
光電性能特性研究與參數分析；
DFB、EML、SOA 晶片 (COC / COS 封裝形式) 之批量生產測試。
產品特點
- 採用 雙測試工位設計，具備獨立溫控，有效提升測試效率。
- 機械手自動上下料，減少人工操作，提高測試效率與可靠性。
- 寬溫控範圍：-10～90℃，支援 COC 三溫性能測試。
- 閾值電流（Ith）與輸出功率（Po）重複性＜±1%；波長重複性＜±0.15 dB。
- 採用 自研測試儀表，有效防止測試過程中發生 EOS (過應力損傷)。
- 光譜耦合收光系統 經專業光學設計，提升耦合效率與測試重複性。
- 軟體採半客製化設計，可依客戶製程流程進行調整。
技術規格
項目 規格 LD 驅動電流 0～1A，精度 0.1%rdg±2mA LD 正向電壓 0～6V，精度 0.1%rdg±6mV，支援四線測量 LD 驅動電流檢測 0～1A，精度 0.1%rdg±2mA LD 加電模式 脈衝和直流 LD 反向電壓測試 0~30V，精度 0.1%rdg±0.03V LD 反向加電店流 2~20uA，精度 0.1%rdg±1uA 脈衝寬度 100us~500ms 前光功率檢測 0.4mW~300mW，0.5%rdg±0.2mW 波長 800～1700nm 溫度範圍 -5℃~85℃ 溫度穩定性 ±0.5℃ 溫度均勻性 ±1℃
軟體系統
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