台灣精密科技有限公司

Probe

首創純精磨功藝，
提供高品質、高精度的
測試探針

核心產品應用於LED芯片晶圓測試探針，且半導體測試也適用
廣泛應用於PCB、FPC、ICT、FCT、連接器及其它电路元件的測試

三種型號圖紙 — Three models drawings

250倍顯微鏡實物圖 — 250x microscope image

500倍顯微鏡實物圖 — 500x microscope image

1000倍顯微鏡實物圖 — 1000x microscope image

工藝比較圖 — Process comparison diagram

工藝極限 — Process limit (2500x measurement)

頭部形狀 — Head Type (1000x measurement)
Three options: Round-head, Flat-head, Pointed-head

細節實物圖 — Details image

友商針型對比圖 — Comparison diagram of needle types of competitors (1000x measurement)

產品列表

C型針

N型針

異形針 (可定製)

直針

30mm 18K金直針

R0.03 / Φ0.69 / 12°
熙之翼 18K金探针

38mm 鈹銅合金直針

R5μm / Φ0.50 / 10°

探針種類

顯微鏡實物圖

針尖細節圖

針尖針型

各種材質

商品說明

Probe Types – L-type needle / C-type needle / N-type needle

Probe Types – Silver-plated straight needle / Gold-plated straight needle / Tungsten-alloy straight needle

Microscope Photos – 250x / 500x / 1000x

Tip Details

Tip Type – Narrow R type / Flat R type / Round R type

Various Materials – Copper-alloy probe / Silver-plated probe / Gold-plated probe / Tungsten-alloy probe / SK-alloy probe

另有12K金、18K金、鈀材，歡迎來信詢問

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