選用高品質材料與先進製程，具備高靈敏度、低暗電流及寬頻響應等特性，適用於光通訊、光纖感測、光功率監測等應用，提供穩定、精準的光電轉換性能。
可討論客製需求。

圖示	型號	類型	封裝方式	波長 (nm)	響應度 (A/W)	暗電流 (nA)	晶片尺寸 (µm)	詳細規格
	I-PD1000L-TO46	TO46	金屬封裝	900~1650	λ=1310nm 0.85~0.90 λ=1550nm TYP: 0.95	1.5nA / max5.0nA VR= -5V	1150×1150(±30)	Click
	I-PD5000L-TO8	TO8	金屬封裝	900~1650	λ=1310nm 0.85~0.90 λ=1550nm TYP: 0.95	25nA / max125nA VR= -1V	5250×5250(±30)	Click
	I-PD3000L-TO5	TO5	金屬封裝	900~1650	λ=1310nm 0.85~0.90 λ=1550nm TYP: 0.95	2nA / max5.0nA VR= -3V	3250×3250(±30)	Click
	I-PD1000-SMD	SMD	表面貼裝	900~1650	λ=1310nm 0.85~0.90 λ=1550nm TYP: 0.95	1.5nA / max5.0nA VR= -5V	1150×1250(±30)	Click
	I-PD010KL-C16	SMD	表面貼裝	900~1650	λ=1310nm 0.80~0.85 λ=1550nm TYP: 0.90	200nA / max2uA VR= -0.1V	10250×10250(±30)	Click

專為半導體與光電元件設計的 Socket，
支援多樣封裝規格，具備高精度與耐用特性，適用各類測試與需求。

• 適用封裝尺寸
  • TO-56
  • TO-46
  • TO-38
• 針腳數選項
  • 4 pin
  • 5 pin
• 腳位間距規格
  • Φ2.0 mm
  • Φ2.54 mm

能在短時間內精準調節溫度，確保敏感元件或系統在最佳條件下運作。
不僅免除傳統冷卻系統的體積與維護負擔，也能提供可靠穩定的性能，適用於光電、醫療、通訊與各類精密設備的溫控需求。
規格可依需求客製。

核心產品應用於半導體與光電半導體晶圓測試探針，廣泛應用於PCB、FPC、ICT、FCT、連接器及其它電路元件；多種材質、針型可因應客制化需求。

• 針型
  • 直針
  • C型針
  • N型針
  • 異形針 ^{_{(可客製化)}}
• 針頭樣式
  • NR 尖頭
  • FR 平頭
  • RR 圓頭
• 材質 _{^{(特殊材料有最低訂購量)}}
  • 銅合金探針
  • 鍍銀探針
  • 鍍金探針 ^{_{(12K金、18K金)}}
  • 鎢合金探針
  • SK合金探針
  • 鈹銅合金